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納米顆粒跟蹤分析技術(shù)（NTA）：多領(lǐng)域廣泛應(yīng)用的納米顆粒表征技術(shù)

一、引言隨著納米技術(shù)的飛速發(fā)展，納米顆粒在眾多領(lǐng)域展現(xiàn)出巨大的應(yīng)用潛力，如生物醫(yī)藥、材料科學(xué)、環(huán)境科學(xué)等。在這些應(yīng)用中，精確測定納米顆粒的尺寸、濃度、表面電荷等特性至關(guān)重要，因為這些參數(shù)直接影響著納米材料的性能、穩(wěn)定性以及與生物系統(tǒng)的相互作用。傳統(tǒng)的納米顆粒分析技術(shù)，如電子顯微鏡（EM）和掃描探針顯微鏡（SPM），雖然能夠提供高分辨率的圖像，但樣品制備復(fù)雜、檢測通量低，且通常只能對靜態(tài)樣品進行分析，難以滿足對納米顆粒在溶液中動態(tài)行為研究的需求。動態(tài)光散射（DLS,圖1B）技術(shù)...

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